JEOL lanceert FIB-SEM-systeem “JIB-PS500i” met hoge nauwkeurigheid en hoge resolutie

TOKIO–(BUSINESS WIRE)– JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (President en CEO Izumi Oi) maakt de lancering bekend van het FIB-SEM-systeem “JIB-PS500i” op 1 februari 2023.

Dit persbericht bevat multimedia. Bekijk hier het volledige persbericht: https://www.businesswire.com/news/home/20230123005844/nl/

FIB-SEM System “PS500i” (Photo: Business Wire)

Door de fijnere structuur van geavanceerde materialen en de toenemende complexiteit van processen, vereisen evaluatietechnieken zoals morfologische observatie en elementaire analyse een steeds hogere resolutie en nauwkeurigheid. Bij het prepareren van preparaten voor transmissie-elektronenmicroscopen (TEM) in de halfgeleiderindustrie en voor batterijen en andere materialen zijn een “hogere nauwkeurigheid” en “dunnere preparaten” vereist.

Dit product voorziet in deze behoefte door de eigenschappen van een FIB-systeem (Focused Ion Beam) dat werkt met hoge nauwkeurigheid te koppelen aan die van een rasterelektronenmicroscoop die een hoge resolutie heeft.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Bekijk het oorspronkelijke bericht op businesswire.com: https://www.businesswire.com/news/home/20230123005844/nl/

Contacts

JEOL Ltd.

Science and Measurement Instruments, afdeling Verkoop

TEL: +81-3-6262-3567

https://www.jeol.com/contacts/products.php