Rigaku wint Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award met methode voor het inspecteren en meten van defecten in 3D-flashgeheugen

– Niet-destructieve visualisering van structuren op nanoschaal gerealiseerd met gebruik van röntgenmicroscoop met ultrahoge resolutie –

TOKIO–(BUSINESS WIRE)– Rigaku Corporation, een groepsmaatschappij van Rigaku Holdings Corporation (hoofdkantoor: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami; hierna “Rigaku”) heeft de Diana Nyyssonen Memorial Best Paper Award (hierna “de Prijs”) gewonnen met een revolutionaire, niet-destructieve methode voor het detecteren van defecten in 3D-flashgeheugen. De inspectie- en meettechnologie (hierna “de Technologie”) gebruikt een röntgenmicroscoop met ultrahoge resolutie.

Dit persbericht bevat multimedia. Bekijk hier het volledige persbericht: https://www.businesswire.com/news/home/20250310130332/nl/

From left: Award recipients Kazuhiko Omote, General Manager, X-ray Research Laboratory; and Raita Hirose, Imaging Group, Advanced Analytical Technology Research Department, X-ray Laboratory (Photo: Business Wire)

De Prijs wordt toegekend aan het team dat het meest overtuigende werkstuk schrijft op het gebied van meting, inspectie en procescontrole op de conferenties van SPIE Advanced Lithography + Patterning.

Deze bekendmaking is officieel geldend in de originele brontaal. Vertalingen zijn slechts als leeshulp bedoeld en moeten worden vergeleken met de tekst in de brontaal, die als enige rechtsgeldig is.

Bekijk het oorspronkelijke bericht op businesswire.com: https://www.businesswire.com/news/home/20250310130332/nl/

Contacts

Perscontactpersoon:
Sawa Himeno

Head of Communications Dept., Rigaku Holdings Corporation

prad@rigaku.co.jp
+81 90 6331 9843